天线检测方法及装置、电子设备、存储介质
公开
摘要
一种天线检测方法及装置、电子设备、存储介质，该方法应用于电子设备，该电子设备可以包括多个待选天线，该方法包括：分别在每个待选天线处于信号发射状态的情况下，通过与各个待选天线对应的检测天线，检测各个待选天线对应的信号强度，其中，目标待选天线对应的检测天线，包括上述多个待选天线中除该目标待选天线以外的其他待选天线，该目标待选天线为上述多个待选天线中的任一待选天线；根据各个待选天线对应的信号强度，从上述多个待选天线中确定出天线性能最高的待选天线，并将该天线性能最高的待选天线配置为电子设备的收发天线。实施本申请实施例，能够使电子设备准确配置当前天线性能最高的收发天线，从而有利于提升电子设备的通信性能。
基本信息
专利标题 ：
天线检测方法及装置、电子设备、存储介质
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114374417A
申请号 ：
CN202210050928.5
公开（公告）日 ：
2022-04-19
申请日 ：
2022-01-17
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
何文卿
申请人 ：
上海闻泰信息技术有限公司
申请人地址 ：
上海市普陀区云岭东路89号2111-L室
代理机构 ：
广州德科知识产权代理有限公司
代理人 ：
蔡丽妮
优先权 ：
CN202210050928.5
主分类号 ：
H04B7/06
IPC分类号 ：
H04B7/06 H04B7/08
法律状态
2022-04-19 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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