本发明公开了一种结构可靠性分析方法、装置、电子设备以及存储介质，方法包括：确定待分析领域的产品结构、功能函数和随机变量特征参数，计算目标函数的梯度值，选取负梯度方向作为下降方向，确定随迭代次数呈指数衰减的迭代步长后开始迭代，得到终点；当功能函数值满足第一预设条件时，将终点作为可靠性分析方法的起点；取一种不涉及梯度计算的非负价值函数作为目标函数，确定搜索方向与迭代步长；根据起点、搜索方向与迭代步长，进行迭代处理，输出满足第二预设条件的最大可能失效点与可靠指标；求解原始空间下的最大可能失效点，在可靠指标基础上计算结构失效概率。本发明提高了效率、有效性和通用性，可广泛应用于可靠性分析技术领域。