一种色谱图异常处理方法、存储介质及电子设备
授权
摘要
本申请涉及一种色谱图异常处理方法、存储介质及电子设备，涉及色谱仪技术领域，该方法包括以下步骤：实时存储检测获得的第一色谱图；调取色谱仪中用户信息对应的第一色谱图；统计第一色谱图中的空气峰总数、平顶峰总数或连续峰总数；根据空气峰高度和空气峰宽度、根据平顶峰顶宽度和平顶峰高度差或根据连续峰宽度和连续区域宽度，处理第一色谱图。本申请基于色谱图的异常情况，进行适当的处理工作，以规避色谱仪自身误差或用户使用误差，在一定程度上为色谱仪的检测结果的可靠性提供保障。
基本信息
专利标题 ：
一种色谱图异常处理方法、存储介质及电子设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114076807A
申请号 ：
CN202210058078.3
公开（公告）日 ：
2022-02-22
申请日 ：
2022-01-19
授权号 ：
CN114076807B
授权日 ：
2022-04-08
发明人 ：
王东强何嘉辉
申请人 ：
华谱科仪（北京）科技有限公司
申请人地址 ：
北京市朝阳区安贞西里五区2、3号楼(写字楼8层)810室
代理机构 ：
北京智慧亮点知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
史明罡
优先权 ：
CN202210058078.3
主分类号 ：
G01N30/86
IPC分类号 ：
G01N30/86
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N30/00
利用吸附作用、吸收作用或类似现象，或者利用离子交换，例如色谱法将材料分离成各个组分，来测试或分析材料
G01N30/02
柱色谱法
G01N30/86
信号分析
法律状态
2022-04-08 ：
授权
2022-03-11 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 30/86
申请日 : 20220119
申请日 : 20220119
2022-02-22 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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