一种基于遗传算法和聚类算法的断路器故障诊断方法
实质审查的生效
摘要

本发明提供了一种基于遗传算法和聚类算法的断路器故障诊断方法,涉及故障诊断技术领域,该故障诊断方法,包括以下步骤:S1、采集断路器多元故障外特性数据,进行数据预处理;S2、根据步骤S1预处理得到的断路器多元故障外特性数据,构造多组物理量组合,利用遗传算法对多组物理量组合进行评价;S3、采用遗传算法构造断路器故障多维度判据;S4、根据步骤S3构造的断路器故障多维度判据,通过K‑均值聚类法对断路器故障进行判断;采用遗传算法对断路器多维度物理量信息进行了组合及筛选,通过遗传算法,实现了不同物理量的随机组合,逐个探究每种物理量的特性并筛选出最优的断路器故障判据,解决了现有断路器故障诊断算法不具有普适性的问题。

基本信息
专利标题 :
一种基于遗传算法和聚类算法的断路器故障诊断方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114487805A
申请号 :
CN202210061086.3
公开(公告)日 :
2022-05-13
申请日 :
2022-01-19
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
赵云刚刘德峰
申请人 :
西安零壹智能电器有限公司
申请人地址 :
陕西省西安市高新区鱼化寨街道天谷八路156号软件新城二期阿里巴巴丝路总部C1栋6层611室
代理机构 :
合肥东信智谷知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
曹雪娇
优先权 :
CN202210061086.3
主分类号 :
G01R31/327
IPC分类号 :
G01R31/327  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/327
•电路断续器、开关或电路断路器的测试
法律状态
2022-05-31 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/327
申请日 : 20220119
2022-05-13 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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