一种基于声光偏转扫描的结构光照明显微成像装置及方法
实质审查的生效
摘要

本发明公开了一种基于声光偏转扫描的结构光照明显微成像装置及方法,该装置将激发光通过偏振分光器分成两个对称的光路,每个光路各过一个声光偏转模块进行光束的扫描,两光束再通过合束器进行合束,在样品面上进行干涉产生照明条纹。每个光路中的声光偏转模块由两个互相垂直放置的两个声光偏转器以及两个透镜所构成的4f系统组成,通过控制加载在两个声光偏转模块中的各自的两个声光偏转器的载波频率,可以改变每个声光偏转器对光束的在xy平面上的扫描位置,进而得到不同方向的干涉条纹。利用声光偏转器对光束进行扫描,相比于振镜扫描可以获得更快的扫描速度;此外,相对于振镜,声光偏转器具有更高的扫描稳定性,可以实现更稳定的照明条纹。

基本信息
专利标题 :
一种基于声光偏转扫描的结构光照明显微成像装置及方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114486892A
申请号 :
CN202210063094.1
公开(公告)日 :
2022-05-13
申请日 :
2022-01-20
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
刘秋兰匡翠方孙秋媛孙琦樊吴申张良刘旭
申请人 :
之江实验室;浙江大学
申请人地址 :
浙江省杭州市余杭区中泰街道之江实验室南湖总部
代理机构 :
杭州浙科专利事务所(普通合伙)
代理人 :
孙孟辉
优先权 :
CN202210063094.1
主分类号 :
G01N21/84
IPC分类号 :
G01N21/84  G01N21/01  G02B21/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
法律状态
2022-05-31 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 21/84
申请日 : 20220120
2022-05-13 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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