一种基于焦点扫描结构光照明的超分辨成像装置及方法
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摘要

本发明公开了一种基于焦点扫描结构光照明的超分辨成像装置和方法,所述装置包括照明及光强调制单元、扫描单元、中继单元、显微成像单元和控制单元,其中,扫描单元用于对照明及光强调制单元产生的激光光束进行扫描;照明及光强调制单元用于控制激光束的光强,并对光强进行配置,产生不同方向和相移量的条纹结构光;显微成像单元用于记录待测样品在条纹结构光照明下的强度图像;控制单元用于同步控制照明及光强调制单元、扫描单元,和显微成像单元,并重建待测样品的超分辨SIM图像。本发明利用焦点扫描和脉冲编码技术,对扫描中每一个像素的光强进行准确配置,能够产生不同方向和相移量的条纹结构光,有效提高了光强调制速度和条纹对比度。

基本信息
专利标题 :
一种基于焦点扫描结构光照明的超分辨成像装置及方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN112986237A
申请号 :
CN202110114091.1
公开(公告)日 :
2021-06-18
申请日 :
2021-01-27
授权号 :
CN112986237B
授权日 :
2022-04-15
发明人 :
郜鹏雷云泽郑娟娟刘旻马英
申请人 :
西安电子科技大学
申请人地址 :
陕西省西安市雁塔区太白南路2号
代理机构 :
西安嘉思特知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
刘长春
优先权 :
CN202110114091.1
主分类号 :
G01N21/84
IPC分类号 :
G01N21/84  G01N21/01  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
法律状态
2022-04-15 :
授权
2021-07-06 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 21/84
申请日 : 20210127
2021-06-18 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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