超分辨率扫描成像方法、系统和存储介质
授权
摘要
本发明公开了一种超分辨率扫描成像方法、系统和存储介质，方法包括以下步骤：采集第一预设尺寸的微电极扫描预设区域的第一扫描图像；采集第二预设尺寸的微电极扫描所述预设区域的第二扫描图像；根据所述第一扫描图像和所述第二扫描图像获取卷积核；采集所述第二预设尺寸的微电极扫描的第三扫描图像；采用所述卷积核对所述第三扫描图像进行反卷积后确定原始扫描图像。本发明在实际扫描过程中，通过较大尺寸的微电极进行扫描，即能得到较符合真实情况的扫描图像的超分辨图像，同时还能加快实验运行时间，降低实验成本。本发明可广泛应用于图像扫描技术领域。
基本信息
专利标题 ：
超分辨率扫描成像方法、系统和存储介质
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN112653834A
申请号 ：
CN202011383048.7
公开（公告）日 ：
2021-04-13
申请日 ：
2020-12-01
授权号 ：
CN112653834B
授权日 ：
2022-04-08
发明人 ：
王梓潼杨尚京罗建超阮德明
申请人 ：
广东鼎诚电子科技有限公司
申请人地址 ：
广东省广州市黄埔区华峰路6号自编四栋
代理机构 ：
广州嘉权专利商标事务所有限公司
代理人 ：
常柯阳
优先权 ：
CN202011383048.7
主分类号 ：
H04N5/232
IPC分类号 ：
H04N5/232 G06N3/04 G06N3/08
法律状态
2022-04-08 ：
授权
2021-04-30 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : H04N 5/232
申请日 : 20201201
申请日 : 20201201
2021-04-13 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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