用于少样本故障诊断的具有自适应学习率的元学习方法
实质审查的生效
摘要

本发明提供一种用于少样本故障诊断的具有自适应学习率的元学习方法,其包括以下步骤:确定相关超参数;对模型参数随机初始化;进行元训练包括:外循环迭代次数中嵌套内循环,在内循环迭代中,采样形成子任务,根据内循环中子任务的参数更新次数Γ计算得到参数计算样本的交叉熵损失,内循环结束后计算特征间多核最大均值差异并更新模型参数;进行精调循环包括:计算自适应的精调学习率,计算精调损失函数,最后得到用于目标任务故障诊断的模型并结束。本发明提出了用于元训练和精调的两种自适应学习率,并改进了元训练和精调的损失函数,解决了少样本学习中的过拟合和欠拟合问题,并且使模型具有更强的泛化能力。

基本信息
专利标题 :
用于少样本故障诊断的具有自适应学习率的元学习方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114418117A
申请号 :
CN202210067075.6
公开(公告)日 :
2022-04-29
申请日 :
2022-01-20
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
林焱辉常亮
申请人 :
北京航空航天大学
申请人地址 :
北京市海淀区学院路37号
代理机构 :
北京孚睿湾知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
韩燕
优先权 :
CN202210067075.6
主分类号 :
G06N20/00
IPC分类号 :
G06N20/00  G06K9/62  G06F30/27  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06N
基于特定计算模型的计算机系统
G06N20/00
机器学习
法律状态
2022-05-20 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06N 20/00
申请日 : 20220120
2022-04-29 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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