触发电平的校准方法、信号测量方法及装置
实质审查的生效
摘要
本发明提供了一种触发电平的校准方法、信号测量方法及装置,涉及ATE校准技术领域,包括:配置每个电压比较器的初始校准电平;控制标准信号源产生标准信号,从电压比较器中确定未触发的第一电压比较器和已触发的第二电压比较器;控制第二电压比较器的初始校准电平保持不变,并根据预设增量对第一电压比较器的初始校准电平进行调整,得到第一电压比较器的第一目标校准电平;控制第一目标校准电平保持不变,并根据预设减量对第二电压比较器的初始校准电平进行调整,得到第二电压比较器的第二目标校准电平;其中,信号测量通道的目标触发电平包括第一目标校准电平和第二目标校准电平。本发明可以显著提高校准触发电平的准确性,有效提高了信号测试精度,还可以实现宽范围触发电平的校准,有效提高了触发电平的校准效率。
基本信息
专利标题 :
触发电平的校准方法、信号测量方法及装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114415094A
申请号 :
CN202210076640.5
公开(公告)日 :
2022-04-29
申请日 :
2022-01-24
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
陈建明朱灿徐炜陈长正于洪涛
申请人 :
杭州长川科技股份有限公司
申请人地址 :
浙江省杭州市滨江区聚才路410号
代理机构 :
北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 :
张萌
优先权 :
CN202210076640.5
主分类号 :
G01R35/00
IPC分类号 :
G01R35/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R35/00
包含在本小类其他组中的仪器的测试或校准
法律状态
2022-05-20 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 35/00
申请日 : 20220124
申请日 : 20220124
2022-04-29 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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