基于扩展局部二值模式的纺织丝饼成型不良缺陷检测方法
实质审查的生效
摘要

本发明涉及一种基于扩展局部二值模式的纺织丝饼成型不良缺陷检测方法,包括:获取丝饼图像,图像降采样;图像分割和图像裁剪;仿射变换;获取数据集;通过扩展的LBP算法计算出训练集中各个图像的纹理特征向量;生成XML文件;计算出测试集中各个图像的纹理特征向量,SVM支持向量机对测试集正样本、负样本中每张图像的标签进行预测,并计算出预测准确率;对待检测的丝饼图像进行滑块预测;根据滑块预测的标签输出判断结果。本发明通过图像分割将最终的背景干扰去除,使得处理后的图像不再含有大量的干扰,解决了从停留在实验室的研究与验证阶段到能够直接使用到工业生产线中,本发明对纺织丝饼成型不良缺陷检测准确率高、耗时短。

基本信息
专利标题 :
基于扩展局部二值模式的纺织丝饼成型不良缺陷检测方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114511527A
申请号 :
CN202210080786.7
公开(公告)日 :
2022-05-17
申请日 :
2022-01-24
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
屈磊尚宏伟刘伟吴军苗永春邹恒东丁鹏苏晨
申请人 :
安徽大学
申请人地址 :
安徽省合肥市经济技术开发区九龙路111号
代理机构 :
合肥国和专利代理事务所(普通合伙)
代理人 :
张祥骞
优先权 :
CN202210080786.7
主分类号 :
G06T7/00
IPC分类号 :
G06T7/00  G06T7/11  G06T7/41  G06K9/62  G01N21/88  G06V10/774  G06V10/764  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06T
一般的图像数据处理或产生
G06T7/00
图像分析
法律状态
2022-06-03 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06T 7/00
申请日 : 20220124
2022-05-17 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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