针对RF检波模块减小检测功率误差的二次拟合处理方法、系统...
实质审查的生效
摘要
本发明涉及一种针对RF检波模块实现减小检测功率误差的二次拟合处理方法，包括以下步骤：对校准电压点的功率数据进行线性拟合，消除同一校准频点相邻电压点的功率误差；对非校准频点的相邻两个校准点取值进行拟合计算，得到功率数据。采用了本发明的针对RF检波模块实现减小检测功率误差的二次拟合处理方法、系统、装置、处理器及计算机可读存储介质，在不同频率点功率检测时，消除校准时产生以及非校准频率点导致的误差，通过二次拟合算法，提高RF检波输入检测时拟合后功率的准确度。
基本信息
专利标题 ：
针对RF检波模块减小检测功率误差的二次拟合处理方法、系统、装置、处理器及存储介质
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114414882A
申请号 ：
CN202210081622.6
公开（公告）日 ：
2022-04-29
申请日 ：
2022-01-24
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
杜鹏宇
申请人 ：
上海创远仪器技术股份有限公司
申请人地址 ：
上海市松江区泗泾镇高技路205弄7号C座
代理机构 ：
上海智信专利代理有限公司
代理人 ：
王洁
优先权 ：
CN202210081622.6
主分类号 ：
G01R21/00
IPC分类号 ：
G01R21/00 G01R35/00 G06F17/18
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R21/00
电功率、功率因数的测量装置
法律状态
2022-05-20 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 21/00
申请日 : 20220124
申请日 : 20220124
2022-04-29 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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