芯片验证测试用例随机约束的管理和重用方法、存储介质
实质审查的生效
摘要

本发明公开了一种芯片验证测试用例随机约束的管理和重用方法,包含如下步骤:创建随机约束的基类;将配置对象的数据成员传递到该基类中;对基类进行派生,获取若干独立的封装类;创建随机约束的类队列,各个封装类通过调用接口加入类队列;创建包含随机约束的配置对象的基类;基于配置对象的基类创建配置对象,并声明例化封装类和随机约束的类队列,调用随机约束的接口方法将需要的封装类加入随机约束的类队列,最终实现配置对象的随机约束求解。本发明能够根据项目需要,由验证开发人员通过方便地调用随机约束的开关接口方法,轻松得到目标随机约束的合法区间值,从而实现对随机约束程序块的管理控制和代码的重用,大大提升了项目开发效率。

基本信息
专利标题 :
芯片验证测试用例随机约束的管理和重用方法、存储介质
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114492257A
申请号 :
CN202210085226.0
公开(公告)日 :
2022-05-13
申请日 :
2022-01-25
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
马骁
申请人 :
杭州云合智网技术有限公司
申请人地址 :
浙江省杭州市萧山区萧山经济技术开发区建设二路858号集成电路设计产业园D幢107室
代理机构 :
上海洞见未来专利代理有限公司
代理人 :
苗绘
优先权 :
CN202210085226.0
主分类号 :
G06F30/33
IPC分类号 :
G06F30/33  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F30/33
设计验证,例如功能仿真或模型检查
法律状态
2022-05-31 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06F 30/33
申请日 : 20220125
2022-05-13 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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