基于飞针的电路板功能测试方法及设备
实质审查的生效
摘要
本申请涉及一种基于飞针的电路板功能测试方法及设备，方法包括：本确定电路板上的待测试节点，对电路板进行上电，驱动飞针依次移动至各待测试节点，获取各待测试节点处的电路信号，根据各待测试节点处的电路信号对电路板进行诊断。本申请中，通过对电路板上各待测试节点处的电路信号进行诊断分析，根据各待测试节点处的电路信号是否正常可以判断电路板的功能是否正常，可以对电路板的功能和性能有更全面的了解。
基本信息
专利标题 ：
基于飞针的电路板功能测试方法及设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114487779A
申请号 ：
CN202210095759.7
公开（公告）日 ：
2022-05-13
申请日 ：
2022-01-26
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
苏铮
申请人 ：
北京世迈腾科技有限公司
申请人地址 ：
北京市大兴区天华大街5号院3号楼808室
代理机构 ：
北京细软智谷知识产权代理有限责任公司
代理人 ：
付登云
优先权 ：
CN202210095759.7
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-05-31 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/28
申请日 : 20220126
申请日 : 20220126
2022-05-13 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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