一种基于光敏半导体材料的交变磁场探测装置
实质审查的生效
摘要

本发明涉及交变磁场探测领域,具体涉及一种基于光敏半导体材料的交变磁场探测装置,包括衬底层、导电金属层、光敏半导体层、透明导电材料层、四氧化三铁颗粒,导电金属层置于衬底层上,光敏半导体层置于导电金属层上,透明导电材料层置于光敏半导体层上,导电金属层的功函数高,透明导电材料层的功函数低,四氧化三铁颗粒与光敏半导体层接触。应用时,导电金属层和透明导电材料层分别通过电极连接外电路,用以测量导电金属层和透明导电材料层之间的电流;同时,应用光照射光敏半导体层。本发明具有交变磁场探测灵敏度高的优点。另外,本发明不需要线圈等部件,装置尺寸小,在交变磁场探测领域具有良好的应用前景。

基本信息
专利标题 :
一种基于光敏半导体材料的交变磁场探测装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114487942A
申请号 :
CN202210099708.1
公开(公告)日 :
2022-05-13
申请日 :
2022-01-27
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
刘翡琼
申请人 :
刘翡琼
申请人地址 :
陕西省西安市长安区西长安街620号7栋4单元4层2号
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN202210099708.1
主分类号 :
G01R33/02
IPC分类号 :
G01R33/02  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R33/00
测量磁变量的装置或仪器
G01R33/02
测量磁场或磁通量的方向或大小
法律状态
2022-05-31 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 33/02
申请日 : 20220127
2022-05-13 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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