磁梯度仪现场校正方法及装置
公开
摘要
本公开提供一种磁梯度仪现场校正方法及装置，所述方法包括：根据当前地理位置的地磁场信息，获取地磁场在若干预设姿态下的三分量理想数据；获取所述磁梯度仪分别处于所述若干预设姿态时的三分量测量数据；将所述地磁场在若干预设姿态下的三分量理想数据作为标签，将处于相应姿态时所述磁梯度仪的三分量测量数据作为输入，训练得到三分量测量数据与三分量理想数据之间的映射模型，所述映射模型用于所述磁梯度仪在所述当前地理位置测量地磁数据时的误差校正。本公开提供的技术方案能够在不同测量现场建立当地的误差校正模型，因此可提高磁梯度仪在不同测量现场的测量精度。
基本信息
专利标题 ：
磁梯度仪现场校正方法及装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114563741A
申请号 ：
CN202210103215.0
公开（公告）日 ：
2022-05-31
申请日 ：
2022-01-27
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
杨丽肖书婷唐小瑜张松李彩虹
申请人 ：
西南民族大学
申请人地址 ：
四川省成都市武侯区一环路南四段16号
代理机构 ：
北京钲霖知识产权代理有限公司
代理人 ：
李志新
优先权 ：
CN202210103215.0
主分类号 ：
G01R33/02
IPC分类号 ：
G01R33/02 G01R35/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R33/00
测量磁变量的装置或仪器
G01R33/02
测量磁场或磁通量的方向或大小
法律状态
2022-05-31 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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