用于校准非对称梯度伴随场校正参数的系统和方法
公开
摘要
本发明题为“用于校准非对称梯度伴随场校正参数的系统和方法”。一种用于校正磁共振成像(MRI)系统中的伴随梯度场效应的方法包含使用施加到第一梯度线圈的多个第一双极性梯度波形来确定两个采集之间的多个第一相位差测量。基于多个第一相位差测量来确定第一梯度线圈常数，并且基于第一梯度线圈常数确定补偿梯度波形。补偿梯度波形连同目标梯度波形一起被施加到梯度线圈，以补偿伴随梯度场。
基本信息
专利标题 ：
用于校准非对称梯度伴随场校正参数的系统和方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114587332A
申请号 ：
CN202111471641.1
公开（公告）日 ：
2022-06-07
申请日 ：
2021-12-02
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
T·K·F·福L·M·弗里戈
申请人 ：
通用电气精准医疗有限责任公司
申请人地址 ：
美国威斯康星州
代理机构 ：
北京三友知识产权代理有限公司
代理人 ：
赵鹏
优先权 ：
CN202111471641.1
主分类号 ：
A61B5/055
IPC分类号 ：
A61B5/055
IPC结构图谱
A
A部——人类生活必需
A61
医学或兽医学；卫生学
A61B
诊断；外科；鉴定
A61B5/01
测量身体部位的温度
A61B5/03
测量体内除血压以外的流体压力，例如脑压
A61B5/055
包含电磁共振或核磁共振的，例如磁共振成像
法律状态
2022-06-07 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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