平面近场测量装置的误差估计方法、设备及存储介质
实质审查的生效
摘要
本申请提供了一种平面近场测量装置的误差估计方法、设备及存储介质,涉及天线测量技术领域,包括从预设的天线列表中确定至少一个用于评估待测天线的标准天线;根据标准天线的样本数据中最接近待测天线的第一容忍误差的第二容忍误差及第三容忍误差,分别确定第一机械误差参数、第二机械误差参数,以确定第三机械误差参数;根据样本数据的天线采样数据,计算第三机械误差参数对应的第四容忍误差;重复第三机械误差参数的选取及第四容忍误差的计算直至第四容忍误差与第一容忍误差的差值满足预设条件;根据最终的第三机械误差参数,确定平面近场测量装置的安装参考参数。设备及存储介质应用该方法,能快速确定安装参考参数搭建测试环境。
基本信息
专利标题 :
平面近场测量装置的误差估计方法、设备及存储介质
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114441866A
申请号 :
CN202210106350.0
公开(公告)日 :
2022-05-06
申请日 :
2022-01-28
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
丁一周鑫宇李雷闻家毅欧新菊
申请人 :
广东恒沃技术有限公司
申请人地址 :
广东省东莞市松山湖园区学府路1号7栋204室
代理机构 :
广州嘉权专利商标事务所有限公司
代理人 :
陈春芹
优先权 :
CN202210106350.0
主分类号 :
G01R29/10
IPC分类号 :
G01R29/10
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R29/00
不包括在G01R19/00至G01R27/00各组中的电量的测量或指示装置
G01R29/08
电磁场特性的测量
G01R29/10
天线的辐射图
法律状态
2022-05-24 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 29/10
申请日 : 20220128
申请日 : 20220128
2022-05-06 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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