一种空间极高精度指向测量仪器跨尺度标定方法和系统
公开
摘要
本发明公开了一种空间极高精度指向测量仪器跨尺度标定方法和系统，该方法包括：获取光电测试参数；根据光电测试参数，对空间指向测量仪器的图像探测器进行像素级标定；根据像素级标定的结果，对空间指向测量仪器进行视场级标定；根据视场级标定的结果，对空间指向测量仪器进行轨道级标定。本发明实现了像素级‑视场级‑轨道级的跨尺度、精细化的标定，可满足空间指向测量仪器的极高精度指向测量需求。
基本信息
专利标题 ：
一种空间极高精度指向测量仪器跨尺度标定方法和系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114577235A
申请号 ：
CN202210107640.7
公开（公告）日 ：
2022-06-03
申请日 ：
2022-01-28
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
王立武延鹏袁利孟小迪郑然齐静雅李玉明程会艳王苗苗赵琴王晓燕隋杰张承钰
申请人 ：
北京控制工程研究所
申请人地址 ：
北京市海淀区北京2729信箱
代理机构 ：
中国航天科技专利中心
代理人 ：
杨春颖
优先权 ：
CN202210107640.7
主分类号 ：
G01C25/00
IPC分类号 ：
G01C25/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01C
测量距离、水准或者方位；勘测；导航；陀螺仪；摄影测量学或视频测量学
G01C25/00
有关本小类其他各组中的仪器或装置的制造、校准、清洁或修理
法律状态
2022-06-03 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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