一种空间极高精度指向测量仪器热光耦合效应确定系统及方法
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摘要

本发明公开了一种空间极高精度指向测量仪器热光耦合效应确定系统及方法;本方法通过在空间极高精度指向测量仪器内部设计热光耦合效应自监视组件,建立了与恒星星光成像共光路的模拟星光。该光路可闭环测量空间极高精度指向测量仪器光学成像组件由于空间光热耦合效应产生的成像变化情况,用此测量结果评价恒星星光成像光路的变化。同时,在光学成像组件的核心光学零件上建立温度检测与补偿组件,实时测出不同模拟星光指向变化下的光学零件温度分布情况,通过闭环补偿形成稳定的温度场,达到降低测量仪器低频误差的目的,最终可以定量得到热光耦合对空间极高精度指向测量仪器的影响量。

基本信息
专利标题 :
一种空间极高精度指向测量仪器热光耦合效应确定系统及方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN113218418A
申请号 :
CN202110432077.6
公开(公告)日 :
2021-08-06
申请日 :
2021-04-21
授权号 :
CN113218418B
授权日 :
2022-05-24
发明人 :
王晓燕袁利王立武延鹏郑然程会艳李玉明王苗苗隋杰
申请人 :
北京控制工程研究所
申请人地址 :
北京市海淀区北京2729信箱
代理机构 :
中国航天科技专利中心
代理人 :
张晓飞
优先权 :
CN202110432077.6
主分类号 :
G01C25/00
IPC分类号 :
G01C25/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01C
测量距离、水准或者方位;勘测;导航;陀螺仪;摄影测量学或视频测量学
G01C25/00
有关本小类其他各组中的仪器或装置的制造、校准、清洁或修理
法律状态
2022-05-24 :
授权
2021-08-24 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01C 25/00
申请日 : 20210421
2021-08-06 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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