基于线性电光效应耦合波理论的电场方向测量方法及系统
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摘要
本发明提供了一种基于线性电光效应耦合波理论的电场方向测量方法及系统，涉及电场方向测量技术领域。本发明通过在BGO晶体中设置入射方向不同的多条光路，计算空间电场对各光路出射光强度的影响，建立各光路对应的空间电场出射光强度分布的数据库。在测量电场时，利用各光路出射光强度测量值匹配各光路对应的空间电场出射光强度分布的数据库确定电场方向。电场测量误差仅受光电探测精度的影响，系统无源，无需标定，精度高。
基本信息
专利标题 ：
基于线性电光效应耦合波理论的电场方向测量方法及系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN112067907A
申请号 ：
CN202010803875.0
公开（公告）日 ：
2020-12-11
申请日 ：
2020-08-11
授权号 ：
CN112067907B
授权日 ：
2022-06-03
发明人 ：
李建权鱼江南蔡懿卿王鸣乾
申请人 ：
合肥工业大学
申请人地址 ：
安徽省合肥市包河区屯溪路193号
代理机构 ：
北京久诚知识产权代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 ：
余罡
优先权 ：
CN202010803875.0
主分类号 ：
G01R29/12
IPC分类号 ：
G01R29/12
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R29/00
不包括在G01R19/00至G01R27/00各组中的电量的测量或指示装置
G01R29/12
静电场的测量
法律状态
2022-06-03 ：
授权
2020-12-29 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 29/12
申请日 : 20200811
申请日 : 20200811
2020-12-11 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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