一种表面磁光克尔效应测量装置
专利权的终止
摘要

本实用新型属于光学技术领域,具体为一种表面磁光克尔效应测量装置。该装置由电磁铁、前置放大器、光路系统、激光器电源、操作控制系统和PC机经电路连接组成,该光路系统依次为激光器、光阑、起偏棱镜、样品架、另一光阑、检偏棱镜、透镜和光电检测器,其中激光器采用半导体激光器,相应的电源采用二级稳压电源;电磁铁的磁轭、磁头用一个整体环状圈铁锻打出来的方法,使磁轭形状与磁力线方向基本一致。本装置成本低,操作方便,检测数据稳定性好,精确度高,可广泛用于物理实验教学和磁性薄膜的研究中。

基本信息
专利标题 :
一种表面磁光克尔效应测量装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200620041198.9
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2006-04-20
授权号 :
CN2886553Y
授权日 :
2007-04-04
发明人 :
胡顺全陈希江董国胜陆申龙
申请人 :
上海复旦天欣科教仪器有限公司;复旦大学
申请人地址 :
200433上海市国权路561号5楼
代理机构 :
上海正旦专利代理有限公司
代理人 :
陆飞
优先权 :
CN200620041198.9
主分类号 :
G01N21/21
IPC分类号 :
G01N21/21  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/21
影响偏振的性质
法律状态
2013-06-12 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101471730170
IPC(主分类) : G01N 21/21
专利号 : ZL2006200411989
申请日 : 20060420
授权公告日 : 20070404
终止日期 : 20120420
2007-04-04 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
  • 联系电话
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 联系 Q Q
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 关注微信
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 收藏
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332