一种基于太赫兹泵浦-光克尔探测的太赫兹磁光实验系统
实质审查的生效
摘要

本发明公开了一种基于太赫兹泵浦‑光克尔探测的太赫兹磁光实验系统,包括光学减震平台和丝杆,所述丝杆的两端分别连接有样品架和步进电机,所述步进电机驱动丝杆转动,且在丝杆的外侧滑动连接有滑座,所述滑座的外侧转动连接有一组对称设置的推杆,所述推杆的另一端转动连接有角度调节臂。本发明通过设有的步进电机、推杆、角度调节臂、起偏模块和检偏模块,可以快速的确定探测光线的入射角和反射角,同时便于在不同反射角条件下探测样品的克尔角,简化了反射光线路上的光学器件的调节过程,便于实际操作。

基本信息
专利标题 :
一种基于太赫兹泵浦-光克尔探测的太赫兹磁光实验系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114428059A
申请号 :
CN202210130964.2
公开(公告)日 :
2022-05-03
申请日 :
2022-02-12
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
张慧丽田王昊黄家才殷埝生张铎邵伟华
申请人 :
南京工程学院
申请人地址 :
江苏省南京市江宁科学园弘景大道1号
代理机构 :
安徽善安知识产权代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 :
黄玲
优先权 :
CN202210130964.2
主分类号 :
G01N21/21
IPC分类号 :
G01N21/21  G01N21/3586  G09B23/22  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/21
影响偏振的性质
法律状态
2022-05-20 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 21/21
申请日 : 20220212
2022-05-03 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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