一种垂直入射的太赫兹探测系统
授权
摘要

本实用新型提供一种垂直入射的太赫兹探测系统,包括:发射模块,用于发射太赫兹波束;分束镜,设置于发射模块和被测样品之间;发射模块发射出的太赫兹波束沿第一方向传播,经过分束镜后垂直入射到被测样品表面;分束镜还用于改变从被测样品反射回的反射波束的光路,使反射波束沿第二方向传播;接收模块,接收反射波束。保证太赫兹波束垂直入射到被测样品表面,并在穿透一定的深度后扔按照垂直于样品表面的方向传播反射至分束镜,经分束镜反射后由接收模块接收,可对被测样品不同位置的单点采样从而实现三维成像和厚度测量。

基本信息
专利标题 :
一种垂直入射的太赫兹探测系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202122698531.0
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2021-11-05
授权号 :
CN216247695U
授权日 :
2022-04-08
发明人 :
王丹杨旻蔚
申请人 :
华太极光光电技术有限公司
申请人地址 :
上海市杨浦区军工路1436号64幢一层A137室
代理机构 :
上海申新律师事务所
代理人 :
吴轶淳
优先权 :
CN202122698531.0
主分类号 :
G01N21/3586
IPC分类号 :
G01N21/3586  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/25
颜色;光谱性质,即比较材料对两个或多个不同波长或波段的光的影响
G01N21/31
测试材料在特定元素或分子的特征波长下的相对效应,例如原子吸收光谱术
G01N21/35
利用红外光
G01N21/3581
利用远红外光;利用太赫兹辐射
G01N21/3586
通过太赫兹时域频谱学
法律状态
2022-04-08 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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