一种实现手持式太赫兹反射光谱探测的紧凑型探测系统
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摘要
一种实现手持式太赫兹反射光谱探测的紧凑型探测系统，包括由准直镜组、缩束镜组、THz折转光路及THz窗口和3D打印的探测头结构组成的太赫兹探测头光学子系统，由飞秒激光器、光纤及耦合器和THz发射器三部分组成的太赫兹源子系统，由飞秒激光器、光学延迟线、光纤及耦合器、THz接收器、放大器和计算机组成的太赫兹探测器子系统；太赫兹探测头光学子系统将太赫兹源发射的发散太赫兹波均匀准直的入射到探测物质表面并将反射太赫兹波聚焦到太赫兹探测器接收面；太赫兹源出射的太赫兹波首先经过准直镜组准直成均匀的平行光，然后经折转光路从太赫兹窗口出射，照射探测物质表面，最后再经太赫兹窗口和折转光路将反射太赫兹波通过缩束镜组聚焦到THz接收器光敏面。
基本信息
专利标题 ：
一种实现手持式太赫兹反射光谱探测的紧凑型探测系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN111024622A
申请号 ：
CN201911195111.1
公开（公告）日 ：
2020-04-17
申请日 ：
2019-11-28
授权号 ：
CN111024622B
授权日 ：
2022-04-22
发明人 ：
曹恩达于勇赵一鸣宋长波
申请人 ：
北京遥测技术研究所;航天长征火箭技术有限公司
申请人地址 ：
北京市丰台区北京市9200信箱74分箱
代理机构 ：
中国航天科技专利中心
代理人 ：
张晓飞
优先权 ：
CN201911195111.1
主分类号 ：
G01N21/25
IPC分类号 ：
G01N21/25
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/25
颜色；光谱性质，即比较材料对两个或多个不同波长或波段的光的影响
法律状态
2022-04-22 ：
授权
2020-05-12 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 21/25
申请日 : 20191128
申请日 : 20191128
2020-04-17 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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