一种用于天线OTA测试的球面采样方法
实质审查的生效
摘要
本发明公开了一种用于天线OTA测试的球面采样方法，包括步骤1：根据待测天线口径，计算θ轴最小采样间隔Δθ及赤道线上φ轴的最小采样间隔Δφ；步骤2：计算θ点数；步骤3：取i＝0，根据步骤2计算的θ点数，计算θ角度坐标θi；步骤4：根据θi取值，计算当前θi角度下的φ点数；步骤5：取j＝0，根据步骤4计算的Nφi，计算φ角度坐标φij，记录当前采样点(θi，φij)；步骤6：将j增加1，循环执行步骤5，直到φij≥2π或j＞Nφi‑1；步骤7：将i增加1，循环执行步骤3～6，直到θi≥π或i＞Nθ‑1，完成采样点取值。本发明在采样点数较少的情况下保证了采样精度，且可连续采样，在实现快速采样的同时，能够为研究人员提供其关心的多个主切面方向图数据。
基本信息
专利标题 ：
一种用于天线OTA测试的球面采样方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114553326A
申请号 ：
CN202210117384.X
公开（公告）日 ：
2022-05-27
申请日 ：
2022-02-08
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
杜刘革仝淑娴呼延思腾赵佳
申请人 ：
山东大学
申请人地址 ：
山东省青岛市即墨区滨海路72号
代理机构 ：
青岛华慧泽专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
姜英昌
优先权 ：
CN202210117384.X
主分类号 ：
H04B17/00
IPC分类号 ：
H04B17/00 H04W24/02 G06F17/15
法律状态
2022-06-14 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : H04B 17/00
申请日 : 20220208
申请日 : 20220208
2022-05-27 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
