一种自动校正球面近场天线测试系统及其测试方法
实质审查的生效
摘要

一种自动校正球面近场天线测试系统及其测试方法,属于天线测试技术领域,解决现有的天线测试系统和测试方法存在的测试效率低下、消耗大量人力资源、无法实现大批量产品测试的问题;本发明的技术方案将天线近场测试系统、通用测试台、自动控制分机结合起来,自动控制分机作为控制中心,分别控制近场测试系统完成测试、控制通用测试台完成校正;自动校正测试系统完成待测天线的性能测试、同时完成对部分通道参数的校正,保证每套测试完成的天线是符合性能指标要求的合格产品;只需设置合格判断标准,系统自动完成该校正与测试过程,无需人工介入流程,大幅度提升了天线测试的自动化水平,满足大批量天线的测试需求。

基本信息
专利标题 :
一种自动校正球面近场天线测试系统及其测试方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114280382A
申请号 :
CN202111617200.8
公开(公告)日 :
2022-04-05
申请日 :
2021-12-27
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
张重阳孔凡泉黄文涛盛永鑫明章健张再庆陈旭刘浩魏寅生燕军
申请人 :
中国电子科技集团公司第三十八研究所
申请人地址 :
安徽省合肥市高新技术开发区香樟大道199号
代理机构 :
合肥市浩智运专利代理事务所(普通合伙)
代理人 :
郑浩
优先权 :
CN202111617200.8
主分类号 :
G01R29/10
IPC分类号 :
G01R29/10  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R29/00
不包括在G01R19/00至G01R27/00各组中的电量的测量或指示装置
G01R29/08
电磁场特性的测量
G01R29/10
天线的辐射图
法律状态
2022-04-22 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 29/10
申请日 : 20211227
2022-04-05 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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