一种基于金属-介质-金属纳米圆柱结构阵列完美吸收体的折射...
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摘要

本发明提供一种基于金属‑介质‑金属纳米圆柱结构阵列完美吸收体的折射率传感器,包括基底层和设置在基底层上的完美吸收体;完美吸收体包括金属薄膜层、介质薄膜层以及多个金属‑介质‑金属纳米圆柱结构;金属薄膜层设置在基底层上,介质薄膜层设置在金属薄膜层上,多个金属‑介质‑金属纳米圆柱结构设置在介质薄膜层上;每个金属‑介质‑金属纳米圆柱结构包括从下至上依次排布的金纳米层、介质隔离层、金纳米层。本发明将完美吸收体与金属‑介质‑金属共振结构相结合,实现超窄带宽的光学特性。本发明具有高灵敏度、高品质因数等优良性能,同时因为是微纳级别的小体积结构,克服了传统光学折射率传感器通常存在的体积过大、应用范围有限等问题。

基本信息
专利标题 :
一种基于金属-介质-金属纳米圆柱结构阵列完美吸收体的折射率传感器
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114609084A
申请号 :
CN202210118478.9
公开(公告)日 :
2022-06-10
申请日 :
2022-02-08
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
林远海董艺菲王俊生
申请人 :
大连海事大学
申请人地址 :
辽宁省大连市高新园区凌海路1号
代理机构 :
大连东方专利代理有限责任公司
代理人 :
姜玉蓉
优先权 :
CN202210118478.9
主分类号 :
G01N21/41
IPC分类号 :
G01N21/41  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/41
折射率;影响相位的性质,例如光程长度
法律状态
2022-06-10 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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