一种电磁参数测试方法、装置、终端设备和存储介质
实质审查的生效
摘要

本申请涉及电参数提取技术领域,提出一种电磁参数测试方法、装置、终端设备和存储介质。该方法首先检测未装填待测物料的测试夹具两端的第一散射参数,以及检测已装填待测物料的该测试夹具两端的第二散射参数;然后,通过第一散射参数和第二散射参数可以计算得到该测试夹具的盒状结构中未装填待测物料部分的第一长度;接着,根据第一散射参数、第二散射参数和第一长度计算出待测物料的折射率和波阻抗;最后,根据折射率和波阻抗,计算得到待测物料的电磁参数。上述过程在实施时无需使用校准件对测试夹具进行校准,提高了用户操作的便捷性。

基本信息
专利标题 :
一种电磁参数测试方法、装置、终端设备和存储介质
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114487611A
申请号 :
CN202210129123.X
公开(公告)日 :
2022-05-13
申请日 :
2022-02-11
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
史煜仲
申请人 :
深圳市思码逻辑技术有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市南山区粤海街道科技园社区科发路8号金融服务技术创新基地2栋8D
代理机构 :
深圳中一联合知识产权代理有限公司
代理人 :
姚泽鑫
优先权 :
CN202210129123.X
主分类号 :
G01R27/26
IPC分类号 :
G01R27/26  G01R33/12  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R27/00
测量电阻、电抗、阻抗或其派生特性的装置
G01R27/02
电阻、电抗、阻抗或其派生的其他两端特性,例如时间常数的实值或复值测量
G01R27/26
电感或电容的测量;品质因数的测量,例如通过应用谐振法;损失因数的测量;介电常数的测量
法律状态
2022-05-31 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 27/26
申请日 : 20220211
2022-05-13 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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