印制电路板缺陷图像配准方法、装置、设备及存储介质
授权
摘要
本发明公开了一种印制电路板缺陷图像配准方法、装置、设备及存储介质，该方法包括：获取印制电路板的产品图片和预设模板图片；将产品图片中的各非变形关键点与预设模板图片中对应的非变形关键点进行匹配，以确定若干非变形配准位置；将产品图片中的若干可变形关键点与预设模板图片中对应的可变形关键点进行匹配，以确定若干可变形配准区域；根据若干非变形配准位置和若干可变形配准区域对所述产品图片进行图像变换，获得印制电路板的缺陷配准图像。本发明通过将非变形关键点和可变形关键点分开匹配，降低了干扰因素的影响，提高了缺陷配准图像的准确度。
基本信息
专利标题 ：
印制电路板缺陷图像配准方法、装置、设备及存储介质
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114170229A
申请号 ：
CN202210131944.7
公开（公告）日 ：
2022-03-11
申请日 ：
2022-02-14
授权号 ：
CN114170229B
授权日 ：
2022-05-13
发明人 ：
黄耀陈天玓
申请人 ：
北京阿丘科技有限公司
申请人地址 ：
北京市海淀区上地东路1号院1号楼6层601A-02号
代理机构 ：
深圳市世纪恒程知识产权代理事务所
代理人 ：
郑雪梅
优先权 ：
CN202210131944.7
主分类号 ：
G06T7/00
IPC分类号 ：
G06T7/00 G06T7/13 G06T7/33 G06N3/04 G06N3/08
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06T
一般的图像数据处理或产生
G06T7/00
图像分析
法律状态
2022-05-13 ：
授权
2022-03-29 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06T 7/00
申请日 : 20220214
申请日 : 20220214
2022-03-11 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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