一种快速检测工业CT装置及其检测方法
公开
摘要
本发明公开了一种快速检测工业CT装置及其检测方法,包括第一X‑Ray射线源、第二X‑Ray射线源、载物台、移动导轨机构、第一图像接收器和第二图像接收器,载物台设在移动导轨机构的活动端,第一X‑Ray射线源和第二X‑Ray射线源均设在载物台的一侧,第一图像接收器和第二图像接收器均设在载物台的另一侧,载物台和第一图像接收器依次设置在第一X‑Ray射线源发射端的延线上,载物台和第二图像接收器依次设置在第二X‑Ray射线源发射端的延线上。通过将两个X‑Ray射线源集成在一起,用于采集样品两个位置的,以此来解决需要两台现有的X‑Ray检测设备导致的成本高及使用不便,且难以对检测图像中的缺陷进行判定等问题,双向CT检测装置具有更高的精度和识别率。
基本信息
专利标题 :
一种快速检测工业CT装置及其检测方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114577829A
申请号 :
CN202210136922.X
公开(公告)日 :
2022-06-03
申请日 :
2022-02-15
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
林锐楠王晗詹道桦林健毛睿欣丁鑫杰罗子淇陈新蔡念
申请人 :
广东工业大学
申请人地址 :
广东省广州市越秀区东风东路729号
代理机构 :
广州专理知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
张凤
优先权 :
CN202210136922.X
主分类号 :
G01N23/046
IPC分类号 :
G01N23/046
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/02
通过使辐射透过材料
G01N23/04
并形成材料的图片
G01N23/046
应用X光断层技术,如计算机X光断层技术
法律状态
2022-06-03 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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