一种谐振结构、金属无损检测传感器、检测系统及方法
实质审查的生效
摘要
本发明涉及微波传感技术领域,尤其是一种谐振结构、金属无损检测传感器、检测系统及方法。其中,金属无损检测传感器包括参考地,所述参考地包括谐振结构;介质基底,所述介质基底设置于所述参考地上;微带线,所述微带线设置于所述介质基底上,且所述微带线沿所述介质基底的轴向方向延伸。本发明在利用金属无损检测系统进行金属表面缺陷检测时,金属表面任意形式的缺陷均会增大整体等效电感,金属无损检测传感器谐振频率减小。对金属表面任意方向、长度、宽度以及深度裂纹均不会造成漏检,且检测灵敏度比较大,可检测亚毫米级别的裂纹。
基本信息
专利标题 :
一种谐振结构、金属无损检测传感器、检测系统及方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114486940A
申请号 :
CN202210139257.X
公开(公告)日 :
2022-05-13
申请日 :
2022-02-15
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
何大平管慧娟杨应平宋荣国
申请人 :
武汉理工大学
申请人地址 :
湖北省武汉市洪山区珞狮路122号
代理机构 :
深圳市弘为力创知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
康晓春
优先权 :
CN202210139257.X
主分类号 :
G01N22/02
IPC分类号 :
G01N22/02 H01P7/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N22/00
利用微波或者无线电波,即具有一毫米或更大的波长的电磁波测试或分析材料
G01N22/02
测试缺陷的存在
法律状态
2022-05-31 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 22/02
申请日 : 20220215
申请日 : 20220215
2022-05-13 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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