基于单平衡探测器的多对比琼斯矩阵OCT成像系统
实质审查的生效
摘要

本发明公开的一种基于单平衡探测器的多对比琼斯矩阵OCT成像系统,属于光学成像技术领域。扫频激光器发出的光由1*2宽带光纤耦合器分为两束,一束进入样品臂偏振延迟模块,产生等功率、光程差为ξ的两束正交样品光,探测生物组织,并通过三端口光纤环形器将样品返回的后散射光传输到50/50宽带光纤耦合器处;与另一束进入参考臂偏振延迟模块,产生的等功率、光程差为2ξ的两束正交参考光,干涉后被一个平衡探测器采集。高速数据采集卡直接处理干涉信号实现实时成像;另一通道采集k‑clock信号,通过计算相关性对系统进行相位补偿,提高系统的检测精度。本发明适用于医疗等领域,用以简化系统结构、降低成本、节省数据的处理时间。

基本信息
专利标题 :
基于单平衡探测器的多对比琼斯矩阵OCT成像系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114544553A
申请号 :
CN202210148746.1
公开(公告)日 :
2022-05-27
申请日 :
2022-02-18
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
李艳秋陈国强
申请人 :
北京理工大学
申请人地址 :
北京市海淀区中关村南大街5号
代理机构 :
北京正阳理工知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
邬晓楠
优先权 :
CN202210148746.1
主分类号 :
G01N21/45
IPC分类号 :
G01N21/45  G01N21/25  A61B5/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/41
折射率;影响相位的性质,例如光程长度
G01N21/45
利用干涉量度法,利用纹影方法
法律状态
2022-06-14 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 21/45
申请日 : 20220218
2022-05-27 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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