本发明涉及人工智能领域，公开了一种接口性能测试方法、装置、设备及存储介质。该方法包括：获取待测试的组件信息和对应的性能指标集，所述组件信息包括接口信息和资源分配信息；对所述接口信息进行接口公共行为的切面封装，得到封装信息，并对所述封装信息进行参数对应；根据参数对应后的封装信息和所述性能指标集，采用预置模拟压测方法对对应的待测试组件进行模拟测试，得到模拟测试结果；根据所述资源分配信息，采用预置基准测试方法对所述模拟测试结果进行基准指标分析，得到接口性能测试结果。实现了对开发产品接口性能的有效测试。