本发明公开了一种单元测试方法、系统、电子设备及存储介质，该单元测试方法包括：获取待测程序；解析待测程序，提取待测程序的待测函数及待测函数的基础信息，并利用开源框架LLVM分析待测程序，将待测程序编译成LLVM中间码；根据每个待测函数的基础信息，对待测函数进行代码插桩，生成驱动函数；分析驱动函数，生成用于单元测试待测函数的测试用例；执行测试用例，反馈单元测试结果。该单元测试方法、系统、电子设备及存储介质，通过扩展优化LLVM中间码、编译前端的功能，让待测函数信息的收集自动化，同时让测试用例的生成和执行自动化，无需任何人工干预，保证系统在进行测试时的通用性和自动化程度。