本发明公开了一种单元测试方法、装置、电子设备及存储介质，用于解决现有的单元测试方法开销过大的技术问题。本发明包括：在预设业务中确定待测试单元和所述待测试单元的依赖单元；获取所述待测试单元的测试数据；创建所述依赖单元的mock对象，以模拟执行所述依赖单元；采用所述测试数据和所述mock对象测试所述待测试单元，得到测试结果。本发明通过创建待测试单元的依赖单元的mock对象，来模拟依赖单元的执行以获取待测试单元需要的返回数据，并结合测试数据对待测试单元进行测试，从而无需执行依赖单元的执行流程，减少了单元测试的执行过程，简化了测试程序，降低了单元测试的开销。