一种基于双能CT对烃源岩的评估方法
授权
摘要
本申请是关于一种基于双能CT对烃源岩的评估方法。该方法包括:获取预设规格的烃源岩样品;对烃源岩样品进行双能CT扫描,得到扫描后的三维图像;三维图像包括高能扫描下的第一三维图像和低能扫描下的第二三维图像;根据有机质的灰度值范围对三维图像进行分割,以得到有机质图像;有机质图像包括高能扫描得到的第一有机质图像和低能扫描得到的第二有机质图像;对有机质图像进行处理,以得到有机质图像中各像素点对应的有效原子序数;获取各类型干酪根的平均有效原子序数;分别以各类型干酪根的平均有效原子序数为基准,计算有机质图像中各像素点对应的有效原子序数的第一标准差;根据计算得到的第一标准差确定烃源岩样品对应的有机质类型。
基本信息
专利标题 :
一种基于双能CT对烃源岩的评估方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114235862A
申请号 :
CN202210154902.5
公开(公告)日 :
2022-03-25
申请日 :
2022-02-21
授权号 :
CN114235862B
授权日 :
2022-05-06
发明人 :
周润青杨继进李国梁
申请人 :
中国科学院地质与地球物理研究所
申请人地址 :
北京市朝阳区北土城西路19号
代理机构 :
北京市恒有知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
郭文浩
优先权 :
CN202210154902.5
主分类号 :
G01N23/046
IPC分类号 :
G01N23/046 G06T7/00 G06T7/10
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/02
通过使辐射透过材料
G01N23/04
并形成材料的图片
G01N23/046
应用X光断层技术,如计算机X光断层技术
法律状态
2022-05-06 :
授权
2022-04-12 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 23/046
申请日 : 20220221
申请日 : 20220221
2022-03-25 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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