校准烧录方法及系统
公开
摘要
本发明提供一种校准烧录方法及系统，该校准烧录方法包括获取摄像模组拍摄的初始图像，根据初始图像对摄像模组进行图像校准并确定摄像模组的图像校准参数，烧录图像校准参数至摄像模组的存储器，校验校准后的摄像模组以输出摄像模组的良品判定结果。本发明实施例将校正、烧录和检测功能一体化，缓解了现有技术存在的图像校正过程无法监控导致的摄像模组校正效率低的技术问题。
基本信息
专利标题 ：
校准烧录方法及系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114581530A
申请号 ：
CN202210160420.0
公开（公告）日 ：
2022-06-03
申请日 ：
2022-02-22
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
杨富强高峰张文兵
申请人 ：
苏州华星光电技术有限公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市苏州工业园区方洲路338号
代理机构 ：
深圳紫藤知识产权代理有限公司
代理人 ：
熊恒定
优先权 ：
CN202210160420.0
主分类号 ：
G06T7/80
IPC分类号 ：
G06T7/80 G06F8/61 H04N17/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06T
一般的图像数据处理或产生
G06T7/10
分割；边缘检测
G06T7/80
通过图像分析确定摄像机内部或外部的参数，例如摄像机校准
法律状态
2022-06-03 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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