一种防止MAP偏移误差的方法

实质审查的生效

摘要

本发明揭示了一种防止MAP偏移误差的方法，包括如下步骤：S100、对MES系统的CP设定里的BIN设定中的OPEN和SHORT项，预先设定：与BIN项对应的OPEN、SHORT项的标记设定；S200、所述标记设定审核提交后，对于MES系统的测试结果，自动统计测试结果外圈中OPEN、SHORT项，并确定所述OPEN、SHORT项对应的实际BIN项值；S300、根据统计的所述测试结果外圈中OPEN、SHORT项、实际BIN项值，以及预先设定的所述标记设定，进行OPEN和SHORT项的设定管控，以防止MAP偏移误差。本发明仅在外圈范围内进行统计以防止MAP偏移误差。

基本信息

专利标题：

一种防止MAP偏移误差的方法

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN114545205A

申请号：

CN202210165656.3

公开（公告）日：

2022-05-27

申请日：

2022-02-23

授权号：

暂无

授权日：

暂无

发明人：

陈聪张钦祥李宗仁

申请人：

上海利扬创芯片测试有限公司

申请人地址：

上海市嘉定区永盛路2229号3幢1层、2层

代理机构：

北京前审知识产权代理有限公司

代理人：

张静

优先权：

CN202210165656.3

主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

G01R31/28

IPC结构图谱

G部——物理

G01

测量；测试

G01R

测量电变量；测量磁变量

G01R31/28

•电路的测试，例如用信号故障寻测器

法律状态

2022-06-14 ：

实质审查的生效

IPC(主分类) : G01R 31/28
申请日 : 20220223

2022-05-27 ：

公开

注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。

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