数模转换误差校正方法及相关装置
公开
摘要
本申请的实施例提供了一种数模转换误差校正方法及相关装置。该数模转换误差校正方法包括：获取当前环境温度；确定所述当前环境温度对应的目标校正参数；获取参考电压，进行数模转换侦测，得到侦测电压；根据所述侦测电压和所述目标校正参数，进行数模转换误差校正，得到校正后的目标电压。有别于现有技术单次校正的技术方案，本申请的实施例充分考虑到了温度对校正参数的影响，考虑到校正参数易受温度影响发生特性漂移，则在不同的温度下采用不同的校正参数进行校正，解决了环境温度变化会数模转换误差校正失效的问题。
基本信息
专利标题 ：
数模转换误差校正方法及相关装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114567324A
申请号 ：
CN202210168423.9
公开（公告）日 ：
2022-05-31
申请日 ：
2022-02-23
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
袁梓文黄泰钧
申请人 ：
深圳市华星光电半导体显示技术有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市光明新区公明街道塘明大道9-2号
代理机构 ：
深圳紫藤知识产权代理有限公司
代理人 ：
王胜男
优先权 ：
CN202210168423.9
主分类号 ：
H03M1/10
IPC分类号 ：
H03M1/10
法律状态
2022-05-31 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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