功耗测试方法和装置、电子设备、存储介质及系统
公开
摘要
本发明实施例提供功耗测试方法和装置、电子设备、存储介质及系统，涉及功耗测试技术领域。该方法包括电源分配电路、采样电路、采样控制电路和待测系统负载，首先初始化传感器，对传感器的参数进行配置，设置周期性采样程序，根据采样程序对待测系统负载进行采样，获取第一数据，将第一数据存储到内存，将第一数据发送至终端设备，以使得终端设备根据第一数据，绘制图表。该方法能够实现低成本精准的功耗自动化测试。
基本信息
专利标题 ：
功耗测试方法和装置、电子设备、存储介质及系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114610548A
申请号 ：
CN202210172538.5
公开（公告）日 ：
2022-06-10
申请日 ：
2022-02-24
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
潘志坚樊卿华
申请人 ：
珠海全志科技股份有限公司
申请人地址 ：
广东省珠海市高新区唐家湾镇科技二路9号
代理机构 ：
广州嘉权专利商标事务所有限公司
代理人 ：
俞梁清
优先权 ：
CN202210172538.5
主分类号 ：
G06F11/22
IPC分类号 ：
G06F11/22
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F11/00
错误检测；错误校正；监控
G06F11/22
在准备运算或者在空闲时间期间内，通过测试作故障硬件的检测或定位
法律状态
2022-06-10 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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