FPGA电路后仿真验证方法、装置、电子设备及存储介质
公开
摘要
本发明提供了一种FPGA电路后仿真验证方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质。本发明提供的FPGA电路后仿真验证方法，包括：获取电路器件时延信息及线时延信息；根据所述电路器件时延信息及线时延信息获取时序信息文件，根据所述时序信息文件对电路进行时序反标；根据时序反标后的电路及端口信号的时延进行仿真验证，得到电路仿真验证结果。本发明提供的FPGA电路后仿真验证方法，提高了FPGA电路后仿真验证的效率。
基本信息
专利标题 ：
FPGA电路后仿真验证方法、装置、电子设备及存储介质
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114626324A
申请号 ：
CN202210176508.1
公开（公告）日 ：
2022-06-14
申请日 ：
2022-02-24
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
吴兴云张勇温长清
申请人 ：
深圳市紫光同创电子有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市南山区粤海街道高新区社区高新南一道015号国微研发大楼401
代理机构 ：
深圳国新南方知识产权代理有限公司
代理人 ：
姜宇
优先权 ：
CN202210176508.1
主分类号 ：
G06F30/3315
IPC分类号 ：
G06F30/3315
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F30/3315
使用静态时序分析
法律状态
2022-06-14 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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