表面保护膜的评估方法、光学膜结构的制造方法、以及显示器的...
实质审查的生效
摘要
本公开提供一种表面保护膜的评估方法、一种光学膜结构的制造方法、以及一种显示器的制造方法。表面保护膜的评估方法包含：将表面保护膜贴合至基板；进行滑移量量测步骤，其包含：以固定张力拉伸表面保护膜一预定时间；及量测表面保护膜相对于基板的滑移量；以及以表面保护膜相对于基板的滑移量作为指标，评估表面保护膜的经时翘曲特性。
基本信息
专利标题 ：
表面保护膜的评估方法、光学膜结构的制造方法、以及显示器的制造方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114460672A
申请号 ：
CN202210177782.0
公开（公告）日 ：
2022-05-10
申请日 ：
2022-02-25
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
徐维廷吴秋蕙
申请人 ：
住华科技股份有限公司
申请人地址 ：
中国台湾台南科学工业园区台南市善化区环东路二段32号
代理机构 ：
北京律盟知识产权代理有限责任公司
代理人 ：
章蕾
优先权 ：
CN202210177782.0
主分类号 ：
G02B1/14
IPC分类号 ：
G02B1/14 G02B5/30 G01B21/32
IPC结构图谱
G
G部——物理
G02
光学
G02B
光学元件、系统或仪器附注
G02B1/00
按制造材料区分的光学元件；用于光学元件的光学涂层
G02B1/10
对光学元件表面涂覆或对它进行表面处理后所产生的光学涂层
G02B1/14
保护涂层。例如，硬涂层
法律状态
2022-05-27 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G02B 1/14
申请日 : 20220225
申请日 : 20220225
2022-05-10 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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