一种铜离子的荧光检测方法
公开
摘要
本发明为一种铜离子的荧光检测方法。该方法以氨基功能化的二氧化锆纳米管阵列薄膜为载体，以罗丹明B为荧光探针，将铜离子和罗丹明B固载到氨基功能化二氧化锆纳米管阵列薄膜载体上制备检测样片，通过测试检测样片的荧光强度即可实现对铜离子的检测。该方法简单易行，检测性能好，成本低，废液量少，氨基功能化二氧化锆纳米管阵列薄膜载体可再生重复使用。
基本信息
专利标题 ：
一种铜离子的荧光检测方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114563384A
申请号 ：
CN202210205936.2
公开（公告）日 ：
2022-05-31
申请日 ：
2022-02-28
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
赵建玲刘东鑫王西新李奉霖刘冬
申请人 ：
河北工业大学
申请人地址 ：
天津市红桥区丁字沽光荣道8号河北工业大学东院330#
代理机构 ：
天津翰林知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
赵凤英
优先权 ：
CN202210205936.2
主分类号 ：
G01N21/64
IPC分类号 ：
G01N21/64
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/62
所测试的材料在其中被激发，因之引起材料发光或入射光的波长发生变化的系统
G01N21/63
光学激发的
G01N21/64
荧光；磷光
法律状态
2022-05-31 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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