连接器连通检测系统
公开
摘要
本发明涉及一种连接器连通检测系统，包括按照预设的拓扑结构设置的多个连接器，所述连接器独立设置，或者与另一连接器组成连接器对，所述连接器对之间通过电缆连接，将每一电缆中一根预设的信号线设置为检测通道对应的信号线；每一所述连接器中布置有检测装置，所述检测装置包括驱动电路、接收电路、上拉电阻和VCCIO，所述上拉电阻一端与VCCIO连接，另一端与所述驱动电路和接收电路连接。本发明提高了硬件仿真平台中的连接器连通检测的效率和准确性。
基本信息
专利标题 ：
连接器连通检测系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114578162A
申请号 ：
CN202210208808.3
公开（公告）日 ：
2022-06-03
申请日 ：
2022-03-04
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
李旭李春峰
申请人 ：
上海合见工业软件集团有限公司
申请人地址 ：
上海市浦东新区友诚路149号SK大厦29层
代理机构 ：
北京锺维联合知识产权代理有限公司
代理人 ：
丁慧玲
优先权 ：
CN202210208808.3
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00 G01R31/08
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2022-06-03 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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