一种利用数字微反镜进行光场采样的成像设备及方法
实质审查的生效
摘要

本发明公开了一种利用数字微反镜进行光场采样的成像设备及方法。方案是:包括准直光源,用于产生准直光;数字微反镜,用于产生相干光,即将发射到被测物体表面,或透射穿过被测物体的准直光反射到相机;测量相机,配有镜头,用于采集数字微反镜反射后的相干光图像;个人电脑,用于控制数字微反镜以及测量相机传递的数据。方案控制数字微反镜,可控制光场中光线路径。每次测量过程中通过控制数字微反镜,只让两路光线抵达测量相机,通过测量两路光线的干涉图像,可确定光场中这两个点的相差,依次对不同两点进行测量,进而可获得整个光场信息。优点是测量基于数字微反镜进行光场采样测量,不需要微透镜阵列或者光栅,可用于波前测量和物体三维形貌测量。

基本信息
专利标题 :
一种利用数字微反镜进行光场采样的成像设备及方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114485963A
申请号 :
CN202210211402.0
公开(公告)日 :
2022-05-13
申请日 :
2022-03-04
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
龚海安亚通王楚天杨彦琳魏新和顾海鹏
申请人 :
苏州波渺微测科技有限公司
申请人地址 :
江苏省苏州市太仓市科教新城子冈路27号6号楼9楼901-22室
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN202210211402.0
主分类号 :
G01J9/02
IPC分类号 :
G01J9/02  G01B11/24  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分,偏振、相位或脉冲特性的测量;比色法;辐射高温测定法
G01J9/00
测量光学相位差;测定相干性的程度;测量光学波长
G01J9/02
采用干涉法
法律状态
2022-05-31 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01J 9/02
申请日 : 20220304
2022-05-13 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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