一种基于紧缩场的毫米波相控阵天线幅相校准系统及方法
公开
摘要
本发明涉及一种基于紧缩场的毫米波相控阵天线幅相校准系统及方法，包括多单元的待测相控阵天线，反射面、转台系统，直漏挡板、馈源天线，矢量网络分析仪、直流稳压电源、控制计算机以及测量暗室；校准系统通过紧缩场形成静区，待测相控阵天线位于静区内，该发明通过预先将相控阵天线以n个单元划分为一个子阵，并对相控阵天线每个子阵进行幅相调控，从而得到相控阵天线不同子阵的远场接收幅相信息，并根据得到的子阵幅相信息对每个子阵进行补偿，然后重复上述步骤对补偿后的相控阵天线进行二次校准，确定最终的校准数据。本发明能够在有效提高校准精度的同时，保证校准测试效率。
基本信息
专利标题 ：
一种基于紧缩场的毫米波相控阵天线幅相校准系统及方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114566808A
申请号 ：
CN202210214629.0
公开（公告）日 ：
2022-05-31
申请日 ：
2022-03-01
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
宁宗贺陈海波王昕旸
申请人 ：
北京中测国宇科技有限公司
申请人地址 ：
北京市昌平区沙河镇昌平路97号7幢102（昌平示范园）
代理机构 ：
北京科迪生专利代理有限责任公司
代理人 ：
安丽
优先权 ：
CN202210214629.0
主分类号 ：
H01Q15/16
IPC分类号 ：
H01Q15/16 H01Q19/12 H01Q3/30 H01Q1/50
法律状态
2022-05-31 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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