电源抑制比测试系统
公开
摘要
一种电源抑制比测试系统，包括：信号处理模块，用于输出预设频点的交流调制信号；测试模块，与信号处理模块连接，用于获取交流调制信号并和预设直流信号叠加后输出测试电压信号至待测产品，预设频点在测试模块的频带宽度范围内；电流源模块，连接于待测产品的输入端和输出端之间，用于提供负载电流；信号处理模块，与待测产品的采样端连接，还用于通过采样端获取测试电压信号和待测产品输入所述测试电压信号时的输出信号，并计算出预设频点的电源抑制比值。通过电流源模块提供负载电流，可以在待测产品的输入端和输出端之间产生一个特定大小的循环电流，可以减少待测产品输入端电容的容值，提高了PSRR测量结果准确性。
基本信息
专利标题 ：
电源抑制比测试系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114578164A
申请号 ：
CN202210216583.6
公开（公告）日 ：
2022-06-03
申请日 ：
2022-03-07
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
许超宋海艳
申请人 ：
宁波奥拉半导体股份有限公司
申请人地址 ：
浙江省宁波市杭州湾新区滨海四路866号7幢二楼
代理机构 ：
深圳市嘉勤知识产权代理有限公司
代理人 ：
董琳
优先权 ：
CN202210216583.6
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00 G01R19/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2022-06-03 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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