用于FPGA的测试和配置的系统和方法
实质审查的生效
摘要
用于FPGA中的查找表(LUT)和可编程路由开关的配置值是通过布置在移位寄存器中的许多触发电路来提供。该移位寄存器可以在工厂测试模式中接收测试值和在操作模式中接收操作配置值(实现客户要求的FPGA的无论什么功能性)。在移位寄存器的一端提供比特流，并且一直计时直到最后一个触发电路接收到其值。还可以在移位寄存器的另一端对值进行计时以与初始的比特流进行比较以便识别所存储的值例如因为辐射暴露的讹误。提出时钟门架构以用于将数据加载到特定所选择的移位寄存器中或者从特定所选择的移位寄存器中读取数据。
基本信息
专利标题 ：
用于FPGA的测试和配置的系统和方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114553215A
申请号 ：
CN202210218457.4
公开（公告）日 ：
2022-05-27
申请日 ：
2016-10-07
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
L·鲁热J·埃杜M·朱弗雷
申请人 ：
门塔公司
申请人地址 ：
法国蒙彼利埃
代理机构 ：
永新专利商标代理有限公司
代理人 ：
刘文灿
优先权 ：
CN202210218457.4
主分类号 ：
H03K19/17728
IPC分类号 ：
H03K19/17728 H03K19/17736 H03K19/17764 H03K3/037 G11C19/28 G01R31/28
法律状态
2022-06-14 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : H03K 19/17728
申请日 : 20161007
申请日 : 20161007
2022-05-27 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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