检测性能拐点参数的方法以及装置
公开
摘要
本说明书实施例提供检测性能拐点参数的方法以及装置，其中所述检测性能拐点参数的方法包括：获取目标任务的参数的若干个采样值，以及所述若干个采样值各自对应的性能评估值；对所述若干个采样值以及对应的性能评估值进行分段线性拟合，得到多个分段；根据所述多个分段的端点，确定所述目标任务的性能拐点的参数值。
基本信息
专利标题 ：
检测性能拐点参数的方法以及装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114580294A
申请号 ：
CN202210232404.8
公开（公告）日 ：
2022-06-03
申请日 ：
2022-03-09
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
王庆龙王润哲胡玉溪
申请人 ：
阿里巴巴集团控股有限公司
申请人地址 ：
英属开曼群岛大开曼资本大厦一座四层847号邮箱
代理机构 ：
北京智信禾专利代理有限公司
代理人 ：
赵杰
优先权 ：
CN202210232404.8
主分类号 ：
G06F30/27
IPC分类号 ：
G06F30/27 G06F119/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F30/27
使用机器学习，例如人工智能，神经网络，支持向量机或训练模型
法律状态
2022-06-03 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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