一种纳米水离子的发生参数调节方法及系统
公开
摘要
本发明提供了一种纳米水离子的发生参数调节方法及系统，其中，该方法包括：采集获取纳米水离子发生装置的多维度工作参数，获得发生参数集合，其中，多维度工作参数包括珀尔帖工作参数和高压工作参数；采集获取当前目标环境内的多维度污染参数，获得污染参数集合；根据污染参数集合内的污染程度，设置净化核验标准；根据发生参数集合进行纳米水离子的发生及净化，判断净化结果是否满足净化核验标准；若净化结果满足净化核验标准，则持续进行净化，以及，若净化结果不满足净化核验标准，则基于净化核验标准，进行发生参数集合的优化；采用优化后的发生参数集合进行纳米水离子的发生及净化。
基本信息
专利标题 ：
一种纳米水离子的发生参数调节方法及系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114597766A
申请号 ：
CN202210252539.0
公开（公告）日 ：
2022-06-07
申请日 ：
2022-03-15
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
汪弢龙敏
申请人 ：
深圳市艾森智控科技有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市宝安区福永街道白石厦龙王庙工业园A10栋第五层西
代理机构 ：
深圳科湾知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
杨艳霞
优先权 ：
CN202210252539.0
主分类号 ：
H01T23/00
IPC分类号 ：
H01T23/00
法律状态
2022-06-07 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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